[日本折原]散亂光光彈性應力計 SLP-1000/SLP-2000 可測化學強化玻璃應力分布

SLP-1000
SLP-2000


 

【產品介紹】

本裝置可使用散亂光光彈性測定經過Li+⇔Na+交換的化學強化玻璃的應力分布。
表面有K+層的話配合使用導波光的表面應力計FSM-6000所得出的資料,可進行斷面的應力分布解析。

SLP-1000

SLP-2000

【產品特色】

‧不依賴屈折率分布
‧可應用於曲面玻璃
‧可精確測量(雷射光點直徑約10um)
‧可與表面應力計FSM-6000的數據進行合成(另需FsmV用保密鎖)

型號:SLP-1000 測定波長:640nm
型號:SLP-2000 測定波長:520nm(請指定)
型號:SLP-2000 測定波長:405nm(請指定)

散亂光彈性法是利用通過玻璃內部應力的雙折射來改變極化雷射束的延遲,並且散亂光的強度隨著雷射束的延遲的變化而改變,通過偏振光光路上因雷射束的延遲而出現的光程差和偏振特性來計算表面壓應力和壓應力層厚度。

規格

■散射光光彈應力計model: SLP-1000
測定範圍:應力值0-2000Mpa、應力層深度10-400um
測定解析度:應力5MPa 深度5um
測定精度:表面算起深度50um以上 應力 ±10MPa 深度 ±10um(以標準玻璃為基準)
光源:LD 640±10nm 30mw Class 3B
測定對象:化學強化玻璃、2段化學強化玻璃、物理強化玻璃
測定形狀:平面-1000R 10×10mm以上
稜鏡屈折率:nD=1.516
PC:專用電腦(已安裝OS、軟體)
OS:Windows 10 professional edition
尺寸:W320 × D280 × H220mm(本體)
重量:10kg(本體)


■散射光光彈應力計model: SLP-2000
測定範圍:應力值0-2000Mpa、應力層深度10-600um
測定解析度:應力5MPa 深度5um
測定精度:表面算起深度50um以上 應力 ±10MPa 深度 ±10um(以標準玻璃為基準)
光源:LD 520±10nm 30mw Class 3B or 405±10nm 30mw Class 3B
測定對象:化學強化玻璃、2段化學強化玻璃、物理強化玻璃
測定形狀:平面-1000R 10×10mm以上
稜鏡屈折率:1.518 @518nm / 1.530 @405nm
PC:專用電腦(已安裝OS、軟體)
OS:Windows 10 professional edition
尺寸:W320 × D280 × H220mm(本體)
重量:11kg(本體)

※與表面應力計FSM的數據進行合成另需FsmV用保密鎖。
※長時間使用405nm波長的光源,會造成裝置內部光學零件的耗損,因此相較於其他波長,使用405nm波長時的零件耗損更換率會較快。

日本出貨,交期約2-3周