日本折原｜SLP-1000/SLP-2000散亂光光彈性應力計
折原SLP-1000_散亂光應力計_化學強化玻璃應力分布_FSM-6000數據合成_曲面適用
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Precision Instrument

日本折原｜SLP-1000/SLP-2000散亂光光彈性應力計

折原 SLP-1000/2000 散亂光應力計，測定化學強化玻璃應力分布。$10 \mu m$ 雷射高精確，適用曲面，可合成 FSM-6000 數據。

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產品詳細描述與特徵

【日本折原】散亂光光彈性應力計SLP-1000/SLP-2000 ，專為高精度測定 Li+⇔Na+ 交換化學強化玻璃的應力分布而設計。

本裝置採用先進的散亂光光彈性法，透過雷射束的偏振特性，計算表面壓應力與壓應力層厚度。其獨特優勢在於不依賴屈折率分布、可應用於曲面玻璃，並提供高達 10um 的精確測量。數據可與表面應力計 FSM-6000 進行合成分析，是高端玻璃研發與品管的必備利器。

 

 

 

【散亂光光彈性應力計產品特色】

  • 核心技術： 採用散亂光光彈性測定法，專門解析化學強化玻璃的應力分布。
  • 高精度測量： 雷射光點直徑約 10um ，實現極精細的應力斷面分析。
  • 適用性廣泛： 測量不依賴屈折率分布，可應用於曲面玻璃的應力檢測。
  • 協同分析： 可與折原表面應力計 FSM-6000 的數據進行合成解析 (需保密鎖)，提供完整的 K+ 層應力分布資料。
  • 多波長選擇： 提供 640nm (SLP-1000)、520nm 或 405nm (SLP-2000)，滿足不同應用或標準的測定需求。

 

型號 測定波長 CT_CV ($\sigma$) DOL_Zero ($\sigma$)
SLP-1000 640nm 5.65 MPa 2.16 µm
SLP-2000 520nm 1.51 MPa 1.42 µm
SLP-2000 405nm 1.00 MPa 1.27 µm

 

 

 

 

【散亂光光彈性應力計產品特色】

項目 SLP-1000 SLP-2000
測定範圍 應力值: 0 ~ 2000 MPa
應力層深度: 10 ~ 400 µm		 應力值: 0 ~ 2000 MPa
應力層深度: 10 ~ 600 µm
測定解析度 應力 5 MPa / 深度 5 µm 應力 5 MPa / 深度 5 µm
測定精度
(以標準玻璃為基準)		 表面算起深度 50 µm 以上：應力 ±10 MPa / 深度 ±10 µm
光源 (LD) 640 ±10 nm
30 mW Class 3B		 520 ±10 nm
或 405 ±10 nm
30 mW Class 3B
測定對象 化學強化玻璃、二段化學強化玻璃、物理強化玻璃
測定形狀 / 尺寸 平面 ~ 1000R
10 × 10 mm 以上
稜鏡屈折率 nD = 1.516 1.518 (@520nm)
1.530 (@405nm)
PC / OS 專用電腦 (已安裝 OS、軟體)
OS: Windows 10 Professional Edition
尺寸 (本體) W320 × D280 × H220 mm
重量 (本體) 10 kg 11 kg

### 📢 附註資訊 (重要注意事項)

  • 數據合成：與表面應力計 FSM 的數據進行合成時，需另購 FsmV 用保密鎖。
  • 405nm 波長耗損警告：長時間使用 405nm 波長的光源，會造成裝置內部光學零件的耗損，因此相較於其他波長，使用 405nm 波長時的零件更換率會較快。

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